Pressemitteilung/press release
TechnoLab mit FTIR-Spektroskopie und Hochleistungs-Mikroskopen kleinsten Defekten in der Mikroelektronik auf der Spur
… elektronischen Baugruppen, Komponenten und Materialien. Im Fokus standen mikroskopische … des FTIR-Spektrometers für die Materialidentifizierung und Fehleranalyse …
22. Juni 2018