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TechnoLab mit FTIR-Spektroskopie und Hochleistungs-Mikroskopen kleinsten Defekten in der Mikroelektronik auf der Spur

Pressemitteilung/press release

TechnoLab mit FTIR-Spektroskopie und Hochleistungs-Mikroskopen kleinsten Defekten in der Mikroelektronik auf der Spur

Berlin, 22. Juni 2018. Vom 5. bis 7. Juni 2018 präsentierte der Berliner Dienstleister TechnoLab auf Europas führender Veranstaltung für Systemintegration in der Mikroelektronik, der SMT in Nürnberg, Neuerungen und bewährte Analyseverfahren für das Aufspüren von Fehlerursachen an Leiterplatten, elektronischen Baugruppen, Komponenten und…

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