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Pressemitteilung/press release
TechnoLab mit FTIR-Spektroskopie und Hochleistungs-Mikroskopen kleinsten Defekten in der Mikroelektronik auf der Spur
… vor Ort an Stand 160 in Halle 4 an Beispielen demonstriert wurden. Zudem konnten sich … - Mikroskopische Testverfahren: Das zur Demonstration verwendete Mikroskop (Typ Leica …
22. Juni 2018